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深入解析，温度冲击与温度循环试验的差异
温度冲击试验与温度循环试验在测试对象、条件、过程等方面存在显著的区别。
通常所说的电阻率即为体积电阻率，用符号ρ表示。它的单位是Ω·m（欧姆·米）。
测试对象：一般针对电子元器件、电路板、零部件等进行测试，特别适合用于筛选元器件，尤其是集成电路器件。测试的数量一般较多。
用途：评估材料或组件在快速温度变化条件下的可靠性、耐热性、抗热膨胀性以及耐久性。适用于电子设备、航空航天、汽车零部件等承受瞬时温度变化的产品。
测试对象：一般对电路板、部件、整机、设备或系统进行应力筛选试验。测试通常只在要求筛选的几台或1台受试整机或系统上进行。
用途：考核电子设备在温度循环变化的环境适应性能力，评估其是否可以正常工作。适用于汽车、电子设备、家电等产品的长期耐久性测试。
温度条件：高温温度值、低温温度值，温度范围通常很大，如-70℃~180℃。
转换时间：温度转换时间很短，通常要求不超过几分钟，如3分钟或1分钟，以实现最大的温度冲击效果。
循环次数：循环次数多为几次至几十次不等。
温度条件：高温温度值、低温温度值，但高低温温度极限值相对宽松。
变化速率：温度变化速率较慢，如5℃/min、1℃/min等，温度变化通常是渐进的。
保持时间：高低温温度点保持一定的时间。
循环次数：循环次数多为10次循环。
测试过程与要求
1.温度冲击试验
测试过程：使用冷热冲击试验箱，能够迅速切换温度，通常是将测试样品在短时间内暴露于高温和低温之间的剧烈变化。
测试要求：试验期间一般不要求对受试样机进行上电检测，试验后通电检测或通过专业辅助仪器测试样机的其他性能指标。
测试过程：使用温度循环试验箱，在设定的温度范围内平稳地进行温度升降，每次循环包括高温保持、降温、低温保持和升温四个阶段。
测试要求：在不同的循环时间点需要对受试样机进行上电检测功能和性能的完好性。
1.温度冲击试验
遵循的检测标准包括GJB 150.5A-2009《装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验》等。
遵循的检测标准包括GJB 1032-1990《电子产品环境应力筛选方法》、GB/T 2423.22-2012《电工电子产品 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化》等。
综上所述，温度冲击试验与温度循环试验在测试对象、测试条件与参数、测试过程与要求以及检测标准等方面都存在显著的区别。这两种试验都是气候类环境试验中非常重要的检测项目类型，在产品研发过程的不同阶段对提高产品的可靠性具备非常重要的作用。
